一、半導體動態參數測試系統概述：

        半導體動態參數測試系統是滿足IEC60747-8/9、JESD24標準的半導體動態參數分析系統。旨在幫助工程師解決器件驗證、器件參數評估、驅動設計、PCB設計等需要半導體動態參數的場合。特別對于應用第三代半導體的需要，擁有著較高的系統帶寬，可以有效的測量出實際的器件參數。

二、系統組成

       半導體動態參數測試系統動態參數分析儀，主要包括PC、示波器、低壓源、高壓直流源、探頭以及相關測試配件等構成。半導體測試系統采用12bit示波器，可正確反應波形細節和參數的準確計算，且具備高帶寬的電壓和電流探測特點，能滿足SiC/GaN的測量要求，同時可以滿足上/下管測試要求，可避免頻繁連接探頭。該系統測量參數齊全，且支持多種器件類型。

三、主要應用

（1）功率半導體的來料檢驗

（2）功率半導體的動態參數驗證

（3） 實驗室的器件評估

（4）功率半導體的?產檢驗和篩選

（5） 實驗室的驅動設計改善

（6）實驗室的PCB設計評估

四、硬件優勢:
1、采用全球首先發布的12bit示波器：正確反映波形的細節，并準確計算出參數
2、采用全球首先發布的光隔離、高CMRR探頭系統，解決SIC\GAN的測試難點
3、高帶寬的電壓和電流探測，彌補一般系統對SIC/GAN的測量要求
4、可以滿足上/下管測試，避免頻繁連接探頭
5、電壓覆蓋范圍寬、并可以再次擴展
6、器件驅動設計支持SIC/GAN器件
7、系統帶寬：>400MHz
8、系統可以定制

五、軟件特點：
1、測量參數齊全：開關參數、短路參數、反向恢復 參數
2、支持器件類型多：單管/模塊，MOSFET、IGBT、 FWD、GTR…
3、測試方式：單脈沖、多脈沖
4、離線數據分析：既可以在線測量，也可以記錄數據 離線分析
5、測試UI符合工程師的使用習慣
6、測量項目及器件支持擴展

（1）軟件界面

（2）示波器界面

（3）測量功能

          半導體動態參數測試系統軟件可測量開關參數、反向恢復參數、柵極電荷、短路參數、雪崩能量.

（4）模塊/單管驅動、測試板

六、采集系統的主要工具主要特點

（1）帶寬500MHz、1000MHz

（2）較佳系統精度 1.5%

（3）達160 dB CMRR光隔離探

（4）12位示波器的精密增益校準保證較佳的結果

七、測試項目

八、雙脈沖測試法

       雙脈沖測試法可以測試IGBT模塊和驅動的性能，獲取 IGBT 穩態和暫態過程中的主要參數，用以評估IGBT 模塊和驅動的性能，并進行電路參數的優化。

       具體包括測試 IGBT 的實際工況、開關損耗、關斷電壓尖峰、開關暫態震蕩情況、二極管反向恢復電流、雜散電感影響、吸收電路影響、 短路保護功能等， 可以通過測試進行優化柵極電阻 RG_ON 和 RG_OFF 參數、吸收電路參數、開關頻率設置等，并可以進行 IGBT 模塊的并聯和串聯實驗。

九、半導體動態參數測試系統采用全球首先發布的12bit示波器：正確反映波形的細節，并準確計算出參數：