一、MDI模式轉換損耗測量
隨著汽車安全性和娛樂性的要求不斷提高,車載網絡(IVN)的數據速率要求也在不斷提高。高等級駕駛輔助系統(ADAS)和駕駛艙信息娛樂系統等系統變得越來越快,越來越復雜。制造商正在轉向車載網絡的研究,用以支持ADAS和駕駛艙信息娛樂系統中設備的數據速率傳輸。為了保障汽車以太網環境下,設備能夠正常運行,發射端、接收端和電纜/連接器組件等部件必須通過一系列一致性測試。
MDI模式轉換損耗測量可確保ECU到ECU的通信產生的EMI/EMC符合一致性。
(圖片來源: Open Alliance)
IEEE P802.3bw D3.3和IEEE P802.3bp標準確定了幾種一致性測試,以確保設備的互操作性。
介質相關接口(MDI)模式轉換損耗是一項重要測試。共模電壓到差模電壓,或者差模電壓到共模電壓的轉換,會產生不想要的信號,轉換規范目的就是限制無用信號的能量。MDI轉換損耗測試用于評估MDI的損耗,以確認在規范規定的特定頻率范圍內,反射功率能維持在設定限定值以下。
MDI模式轉換損耗測試通常使用矢量網絡分析儀 (VNA)的端口1和端口2進行測試。
二、技術洞察
規范要求的100BASE-T1/1000BASE-T1設備理想情況下,具有100Ω的差分特性阻抗 ; 但是,MDI輸出的正負極性不匹配會導致模式轉換。
在有線信號中,差模和共模之間的轉換會降低傳輸信號的質量,并導致環境中的電磁兼容問題。因此,要求傳輸線組件必須測試其轉換損耗特性,如縱向轉換損耗(LCL)、橫向轉換損耗(TCL)和混合模S參數。
100BASE-T1 MD鏈路段的共模和差模轉換TCLT和TCTL(定義在S參數:Sdc11、Sdc22、Sdc21和Sdc12中)應滿足或超過以下公式中從1MHz到200MHz的所有頻率要求。
100BASE-T1一致性測試區域:1000BASE-T1鏈路段的縱向轉換損耗(LCL)和橫向轉換損耗(TCL) 模式轉換,在MDI處測量的PHY,LCL(Sdc11)or TCL(Scd11)應滿足在10MHz到600MHz范圍內的所有頻率都可以滿足以下公式:
模式規范適用于:
(1)使用S參數SDC11/SDC22描述縱向轉換損耗 (LCL)以及共模到差模的回波損耗20*log10(abs 0.5*(S11+S12-S21-S22)
(2)使用S參數SCD11/SCD22描述橫向轉換損耗(TCL)以及差模至共模回波損耗
(3)使用S參數SDC12/SDC21描述縱向回波損耗 (LCTL)以及共模到差模插入損耗
(4)使用S參數描述SCD12/SCD21的橫向轉換損耗(TCTL)以及差模至共模插入損耗
三、推薦測試設置
注意:MDI模式轉換損耗測量通常使用矢量網絡分析儀(VNA)執行。根據VNA的設計,可能只有一個輸入端口,如果是這種情況,則需要使用巴倫將DUT的差分傳輸轉換為VNA的單端輸入。但是,如果VNA有兩個或更多輸入端口,則不需要巴倫。
使用VNA時,必須在多端口網絡分析儀上進行MDI模式轉換損耗測量。測量模式轉換損耗時,測試裝置中布線和測試夾具的阻抗匹配至關重要。除了使用的測試夾具外,尤其建議在測試設置下放置一個參考接地,并牢固地連接到測試夾具以實現充分接地。將DUT的MDI和測試設備連接起來的夾具都應具有足夠的模式轉換損耗裕度,以滿足MDI的要求。
(一)典型設置
在VNA中,設置測試的起始和終止頻率。根據Open Alliance規范,必須根據汽車以太網比特率選擇合適的頻率范圍:
(二)實際設置
MDI模式轉換損耗測試報告集成指南:
適用于100Base-T1/1000Base-T1的TekExpress汽車解決方案,提供了將MDI模式轉換損耗(MCL) 的外部結果集成到TekExpress報告中的選項。
該解決方案提供了一個選項,可以選擇特定的S2P文件格式(具有Sdc11 (Re/Im))進行瀏覽。該解決方案讀取Sdc11實部和虛部,將其轉換為dBm單位,并根據一致性測試指標范圍進行繪圖。
(三)MDI模式轉換損耗測試S2P文件格式
解決方案支持的 S2P 文件的格式如下 :
Sdc11位于第2位,其Re/Im分別位于第4列和第5列。典型值如下所示:
(四)配置MDI MCL測試
100Base-T1 or 1000Base-T1測試
(1)進入“DUT Panel”選擇套件
(2)進入下面的“Test Panel” 并選擇測試
(4)點擊MDI模式會話S2p“瀏覽”選項
(5)點擊運行
(6)生成報告,并顯示全部細節
MDI模式轉換測試TekExpress報告
(7)100BASE-T1 MDI模式轉換損耗(MCL)測試限定值
下面的圖表顯示了IEEE 100BASE-T1/1000BASE-T一致性測試的限定值:
備注 : IEEE P802.3bw/D3規范定義了這些限定值
(8)1000BASE-T1 MDI模式轉換損耗(MCL)測試限定值
此限定值來自IEEE Std 802.3bp-2016。
使用Matnet測試夾具的不同端口的MDI模式轉換損耗的仿真數據。
MDI模式轉換TekExpress圖表
四、總結
MDI模式轉換測試使用外部VNA(矢量網絡分析儀) 執行。該測量將有助于檢查ECU到ECU(電子控制單元)的共模EMI/EMC一致性性。對于用戶來說,提供單個一致性性報告始終是一個挑戰。但是,針對 100/1000Base-T1的測試,泰克汽車一致性性解決方案提供了一個選項,可以將MDI模式轉換損耗 (MCL) 的外部結果整合到泰克TekExpress報告中。